Senadora Estatal Leticia Van De Putte, Distrito 26

COMUNICADO DE PRENSA
De difusión inmediata

Enero 23, 2013
Contacto: Van de Putte: Lee Nichols, (512) 463-0126
Patrick: Jenny Goerdel, 512-463-0624

La Senadora Van de Putte y la Diputada Patrick colaboran en la reforma de STAAR

(Austin) - La Senadora Van de Putte (D-San Antonio) y la Diputada Diane Patrick (R-Arlington) introdujeron hoy medidas acompañantes que harían cambios sustanciales en el sistema estatal de exámenes y rendimiento académico en escuelas.

La SB 240/HB 640 eliminaría la regla del 15%, reduciría el número de exámenes de fin de curso de 15 a 3 (Inglés III y Álgebra I), eliminaría el cálculo acumulado de puntaje, ofrecería alternativas ya probadas para exámenes como el SAT y ACT, suspendería la calificación de rendimiento académica del 2012-13 en el estado, y prohibiría el uso de exámenes de fin de curso para la clasificación del estudiante en la case o su admisión en universidades de Texas. Más importante aún, ampliaría la gama con que Texas mide la preparación universitaria o laboral.

"Cuando aprobamos estas medidas de exámenes y rendimiento académico, tenían sentido para nuestros estudiantes y escuelas", dijo la Senadora Van de Putte. "Todos pensamos que estos exámenes elevarían los estándares sin arriesgar los intereses de los estudiantes. Pero en su implementación, se ha probado que éste no es el caso. Este sistema no está funcionando. Debemos admitir nuestros errores y arreglar los problemas. No se trata de nosotros sino de lo que es mejor para los estudiantes".

"Nos dijeron que este sistema de un mismo método para todos no está funcionando para nuestros más de 1,200 distritos escolares públicos y chárter --y estamos de acuerdo", dijo la Diputada Patrick. "La Senadora Van de Putte y yo hemos creado una medida que es un paso inicial con la meta de dar a estudiantes y familias la libertad de aprender y crear su propio futuro, manteniendo a la vez lo necesario para preparar hoy a nuestros estudiantes para un futuro que ni siquiera imaginamos".

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